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恒温恒湿试验箱的可靠性试验人为的差错率
点击次数:595 发布时间:2015-08-12
 

恒温恒湿试验箱作为研究对象。恒温恒湿试验箱是用来将芯片放在规定的温度及湿度环境下,看芯片的耐高温,耐低温,以及抗湿度性能,由于人为的失误,难免给分析结果带来较大的差错。因此,需要研究一种更为可靠的数据采集方法。恒温恒湿设备试验人为差错率可分为下列6种:

1、设计上的差错,违反人类工程学原理的设计,使得一旦操作失误就会引起设备故障;

2、 工艺上的差错,工艺不符合图纸和工艺要求;

3、 检验上的差错,把不超过容许误差的产品当作不合格品,或把超过容许误差的产品当作合格品;

4、装配和维修上的差错,装配和维修不符合图纸和技术要求:

5、操作上的差错,操作不合规定,遗漏了必要的操作步骤或增加了多余的操作步骤,颠倒了操作次序等;

6、处理以上的差错,在高温高湿试验机设备的运输到贮存等处理过程中产生的差错。即使发生了以上差错,系统也不一定马上发生故障。但是,这些因素确实是使系统发生故障的原因。特别是必要的人员、设备、程序表、技术数据、后勤等要素不齐备,以及有关使用上的规定和程序不完备,是设备故障的主要原因。所以,在可靠性设计中要采取相应的措施,防止人为故障的发生。特别是人的身体与健康状态,受到病理限制、生理限制、体力限制的影响,往往会造成差错。所以对那些会因操作差错而发生非常重大的事故的场合(如飞机驾驶等),必须确立对于有关操作人员健康状况的某种标准。

恒温恒湿试验箱的温湿度传感器,温度范围:低温0℃—70℃,zui低可达-150℃;高温150℃。湿度范围为: 20—98﹪R.H。主要的通讯端口为RS232 串口。于是,可以通过研究分析VC0020 的串口通信协议。

 



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